梅特勒-托利多微量天平XS3DU介绍如下：
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有的称量性能，*基础称量应用：在800 mg的精细量程范围内提供1μg的可读性。具有同类产品中*的重复性可低至0.8μg，是获得理想的称量可靠性的关键，避免不必要的重复测试，显著地降低了样品和时间的浪费。
一.特点：
XP2U/XP6和XS3DU微量天平产品特性：
- 数秒内达到*称量性能
- 直观便捷的操作
XP2U/XP6/XS3DU超微量和微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计，同时确保网络兼容性。
二.参数：
梅特勒-托利多 微量天平 XS3DU 技术指标
可读性 0.01 mg/0.001 mg
zui大称量值 3.1 g/ 0.8g
重复性 - 加载处 0.006 mg/ 0.001 mg
- 低加载（加载处） 0.005 mg (0.2 g)/ 0.0008 mg (0.2 g)
线性误差 0.004 mg
典型值 4)   
典型重复性（sd） 0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性（sd） √2x(10-12)g·R_nt
典型灵敏度偏移（sd）2) 3x(10-6)· R_nt
典型zui小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
 0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间< 6 sec
稳定时间 < 10 sec
根据OIML R76
在10到30°C的温度范围内
*次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性
能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年
重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
三.梅特勒-托利多微量天平XS3DU介绍完毕，如果您对厂家、价格、校秤等还有疑问，请梅特勒-托利多天津办事处咨询直线022 -我们将竭诚为您解答的相关事宜。